課程資訊
課程名稱
積體電路系統測試
Vlsi System Testing 
開課學期
102-2 
授課對象
電機資訊學院  電子工程學研究所  
授課教師
黃俊郎 
課號
EEE5011 
課程識別碼
943 U0110 
班次
 
學分
全/半年
半年 
必/選修
選修 
上課時間
星期四6,7,8(13:20~16:20) 
上課地點
博理214 
備註
總人數上限:30人 
Ceiba 課程網頁
http://ceiba.ntu.edu.tw/1022EEE5011_ 
課程簡介影片
 
核心能力關聯
核心能力與課程規劃關聯圖
課程大綱
為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
課程概述

1. VLSI測試概論
2. 錯誤模型與模擬
3. 自動測試圖樣產生技術
4. 內建自我測試
5. 記憶體測試
6. 類比電路測試
7. ADC/DAC測試 

課程目標
本課程介紹積體電路系統測試之觀念及技術,內容包含可測試性設計(Design-for-Test)、內建自我測試(Built-In Self-Test)、記憶體測試、類比/混模電路測試及系統晶片測試技術,適合對VLSI設計與測試有興趣的同學修習。 
課程要求
 
預期每週課後學習時數
 
Office Hours
 
指定閱讀
待補 
參考書目
 
評量方式
(僅供參考)
   
課程進度
週次
日期
單元主題
第1週
2/20  Course overview<br>
Introduction 
第2週
2/27  Fault Model (Lecture) 
第3週
3/06  Design-for-Test (lecture) 
第4週
3/13  Presentation: fault model 
第5週
3/20  Design-for-Test (lecture, cont'd)<br>
Test Compression 
第6週
3/27  Presentation (Design-for-test)<br>
Test Compression (lecture, cont'd) 
第7週
4/03  兒童節(放假) 
第8週
4/10  Presentation (test compression) 
第9週
4/17  Low Power Testing<br>
(midterm week) 
第10週
4/24  Memory Testing 
第11週
5/01  Presentation (low power testing)<br>
Adaptive Test Project 
第12週
5/08  Memory Testing (cont'd)<br>
Adaptive Test Project 
第13週
5/15  Memory testing (cont'd) 
第14週
5/22  midterm 
第15週
5/29  Presentation (memory testing) 
第16週
6/05  Adaptive Test 
第17週
6/12  Presentation 
第18週
6/19  Project Presentation<br>
(final exam week)